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原裝Larson Davis聲級計SoundTrackLXT2儀器Larson Davis聲級計SoundTrackLXT2 　　多年來，工業(yè)衛(wèi)生學家和安全專業(yè)人員已使用各種類型的聲級計和八度音階計來監(jiān)測工作場所的噪聲，其中大多數(shù)需要大量的操作員培訓并產(chǎn)生不同程度的效果。在拉森戴維斯，我們相信這是因為到目前為止，聲級計主要是為聲學工程師設(shè)計的，而不是為安全與健康專業(yè)人士設(shè)計的。 　　Sound

原裝CHAUVIN-ARNOUX總線示波器OX9104儀器CHAUVIN-ARNOUX總線示波器OX9104 　　OX 9104是一款便攜式，獨立的“平板電腦圖標生成” SCOPIX IV示波器，具有4個*隔離的600 V通道，帶寬為100 MHz。它還提供每個通道100 kpoint的存儲深度，從而大大增加了記錄的可用時間。 　　人體工程學 　　SCOPIX IV具有黑色背景上的7英寸W

原裝warmbier靜電表面電阻測試儀　warmbier靜電表面電阻測試儀METRISO B530 　　使用此高電阻測試套件，可以對材料進行快速，準確的ESD測量。 　　Metriso®B530測試套件可有效測量寬范圍的電阻，適用于點對點，表面和接地電阻的測量。Metriso®B530的測量范圍從1kOhm到199 GOhm。Metriso®B530測試套件包括一個數(shù)字高阻測試儀，兩個圓盤探針

原裝MECMESIN數(shù)字扭矩測試儀Orbis 6N.MMECMESIN數(shù)字扭矩測試儀Orbis 6N.M 　　所述Orbis瓶蓋扭力測試儀非常適合于其中的應(yīng)用程序和去除扭矩需要能夠精確地測量寬范圍螺旋型封閉裝置和其他部件。 　　通用的頂板具有可調(diào)節(jié)的抓握釘，可固定各種形狀和大小的容器。防護等級為IP-54的防濺盒易于清潔，使其成為在生產(chǎn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域進行扭矩測試的理想便攜式解決方案。 　　扭

原裝Votschtechnik 試驗箱C7-340PRO儀器Votschtechnik氣候模擬試驗箱C7-340PRO 　　無論您從事哪種行業(yè)，Weiss Technik都能提供廣泛的測試箱和系統(tǒng)，用于環(huán)境模擬，加熱技術(shù)和潔凈室。無論您是進行溫度，氣候，振動，腐蝕，排放，高度，壓力還是綜合應(yīng)力測試，我們都提供正確的解決方案。從系列產(chǎn)品一直到客戶特定的過程集成系統(tǒng)。您的選擇是您出色的重現(xiàn)性和精確的

原裝Schaffner電抗器RSF25056-36-85儀器　Schaffner直流電抗器RSF25056-36-85 　　轉(zhuǎn)換矩形PWM輸出電壓電機驅(qū)動成平滑的低正弦波殘留紋波消除了由電動機引起的過早損壞高dv / dt，過壓，電纜振鈴，電機過熱和渦流損耗由于軸承延長了軸承的使用壽命循環(huán)電流引起的電流符合IEC 60034-17 *和NEMA-MG1通用電機的要求可選配NEMA 1保護罩

原裝HIRAYAMA滅菌器HV-110儀器HIRAYAMA滅菌器HV-110 　　HIRAYAMA HV-110頂裝滅菌器，AT-HV-110：便攜式，頂裝高壓滅菌器，具有*進的安全性和用戶友好功能，沒有籃子就不會干燥 　　節(jié)省空間的設(shè)計，蓋子向上打開。 　　可編程的自動啟動功能，可啟動長達1周的循環(huán)。 　　當腔室加壓或溫度超過97°C時，雙感應(yīng)式蓋互鎖可防止蓋打開。 　　微處理器自動吹

原裝ADDER KVM網(wǎng)絡(luò)延長器X200AS/R儀器ADDER KVM網(wǎng)絡(luò)延長器X200AS/R 　　Adder X200AS / R是X200用戶站，用于CATx交換機，包括VGA，USB，音頻和帶有內(nèi)置2端口KVM交換機的DeSkew。 　　它是一款高分辨率VGA，USB鍵盤和鼠標以及立體聲CATx擴展器。它支持兩臺最大300米的遠程計算機。它是功能齊全的USB鍵盤，視頻和鼠標擴展器，可為

原裝Klaus Potter顯示表LM96-16.2儀器Klaus Potter顯示表LM96-16.2 　　LM ...用于可視消息的留??言板。相應(yīng)的LED直接顯示輸入信號的狀態(tài)。該設(shè)備具有集體警報輸出和燈測試輸入。 　　FLM ...的工作方式類似于LM ... FLM版本還具有鋁箔前袋，而不是刻有膠印的Formica光盤，可在其中插入標簽文字。 Klaus Potter顯示表LM96

原裝RIGAKU測量儀TXRF 3760儀器RIGAKU測量儀TXRF 3760 　　TXRF分析可以衡量所有晶圓廠工藝中的污染，包括清潔，光刻，蝕刻，灰化，薄膜等。TXRF 3760可以使用單靶3束X射線系統(tǒng)和液氮測量從Na到U的元素探測器系統(tǒng)。 　　TXRF 3760包括Rigaku獲得 的XYθ樣品臺系統(tǒng)，真空晶圓自動傳送系統(tǒng)以及新的用戶友好型Windows軟件。所有這些都有助于提高吞