Kewtech KT65DL Multifunction Electrical Tester

SKU: KEWTKT 65DLKIT

KT65DL多功能測(cè)試儀的新功能

高分辨率環(huán)路測(cè)試

測(cè)試結(jié)果顯示為0.001歐姆。KT65DL將提供一個(gè)循環(huán)測(cè)試結(jié)果,傳統(tǒng)的循環(huán)測(cè)試器將顯示零歐姆。當(dāng)在非?？拷?dāng)?shù)仉娏ψ冸娬镜牡胤竭M(jìn)行環(huán)路測(cè)試時(shí),這種情況很常見。

引信等級(jí)

只需將測(cè)試中的電路上安裝的保護(hù)裝置的類型和尺寸,以及0.4或5秒的斷開連接時(shí)間通知?jiǎng)P德公司,多功能測(cè)試儀將提供iet線路條例BS7671:2008(2011)中所列的通行/故障限制。這個(gè)值下的任何測(cè)試結(jié)果都將通過(guò)一個(gè)"勾號(hào)"來(lái)可視化地傳遞,而這個(gè)值上的任何測(cè)試值都將通過(guò)一個(gè)"交叉"來(lái)可視化地顯示。

改進(jìn)的PAT功能

通過(guò)使用KT65DL和可選擇的KT65DAT適配器,您可以利用連續(xù)性和絕緣電阻測(cè)試選項(xiàng),如一個(gè)獨(dú)立的PAT測(cè)試器。

對(duì)于地球鍵測(cè)試,簡(jiǎn)單地選擇連續(xù)性在旋轉(zhuǎn)撥號(hào),并使用功能鍵程序的0.1或0.3歐姆作為通過(guò)閾值。

對(duì)于絕緣電阻測(cè)試,選擇旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤進(jìn)行絕緣測(cè)試,并根據(jù)測(cè)試設(shè)備的情況,將測(cè)試儀程序化為一級(jí)或二級(jí)。

高級(jí)存儲(chǔ)器

儲(chǔ)存和下載測(cè)試結(jié)果從來(lái)沒有這么簡(jiǎn)單。在進(jìn)行測(cè)試后,使用功能鍵對(duì)您進(jìn)行的測(cè)試類型進(jìn)行編程(ZE、ZS、R1+R2),以及電路、配電板和站點(diǎn)號(hào),以便在稍后的日期對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行回憶。結(jié)果可以簡(jiǎn)單地下載使用提供的凱德科技的報(bào)告軟件。